发现可以改善未来的智能电子设备的可靠性

大学的本科学生萨里发现了一种抑制热载流子效应困扰设备使用薄膜晶体管结构——如smartwatches和太阳能电池板。

热载流子效应时出现不必要的电子能量积聚在某些地区的晶体管,导致设备执行不可靠。在她的毕业项目,Lea丛林研究一种新的设备,多通道晶体管,替代传统的薄膜晶体管,博士生发明并发展起来的伊娃Bestelink和主管拉杜Sporea博士在萨里。

陆Sourcee::;江,w;吴,问:;耿,d;李,l;刘,m .紧凑模式的回顾薄膜晶体管(日前)。机器2018,599。https://doi.org/10.3390/mi9110599

Lea使用多通道晶体管的定义特征,引入电子控制设备的分离,允许他们在晶体管。通过计算机模拟,Lea发现选择合适的电压适用于交通控制区域可以防止不必要的热载流子效应。此外,它可以确保当前通过晶体管在范围广泛的操作条件保持不变。

使未来科技更省电

在一篇发表在《先进电子材料、博士生Eva Bestelink Lea系统研究的发现异常行为的多通道晶体管通过确认测量微晶硅晶体管和执行广泛的设备模拟了解设备物理支撑着其独特的能力。

这一发现意味着,未来使用多通道晶体管可以更高效的技术,它可能导致高性能放大器,这是必不可少的测量环境和生物传感器的信号。

“我们现在有一个更好的理解当用多通道晶体管可以提供什么材料,导致许多挑战常规设备,”伊娃Bestelink说,萨里大学的该研究的第一作者。“对于电路设计师来说,这提供了洞察如何操作设备的最佳性能。从长远来看,多通道晶体管提供了另一种新兴的高性能材料,传统解决方案不再适用。”