电子产品与技术

行业成员合作创建半实验室

Keysight Technologies,国家中央大学光学科学中心,建立第3代半导体研发和测试开放实验室

9月28日,2021年EP&T杂志

全球测试和测量公司Keysight Technologies Inc.与国家中央大学光学科学中心(NCUOSC)宣布了一项合作,以提高氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC)应用的设计和测试验证效率,加快5G和电动汽车(EV)创新的步伐。

宽带隙(WBG)材料,如GaN和SiC,提供快速的开关速度,低损耗和承受高温和电压特性。因此,这些材料在消费者电力产品,快速充电,电动车辆和轨道传输中杠杆,以及5G基础设施和数据中心服务器。然而,这些优点增加了设计和测试的复杂性。

Keysight PD1500A动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪。

NCUOSC成功使用Keysight PD1500A动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪(DPT)平台,建立第三代WBG半导体开放式实验室,提高开发和测试效率。作为为微电子工业开发开放标准和出版物的全球领导者,JEDEC继续定义WBG设备的动态测试,标准化测试开始出现。

Keysight PD1500A DPT决定了关键性能参数,符合所有标准,如开/关和开关特性,动态通阻,动态电流和电压,以及反向恢复,栅极电荷和器件输出特性。

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可靠和可重复的测量是至关重要的

“Keysight很乐意使用NCUOSC,帮助工程团队表征,了解,整合,部署和推动下一代半导体技术的创新,”Keysight的汽车和能源解决方案业务部的副总裁兼总经理Thomas Goetzl表示。

可靠和可重复的测量对于加速新技术的设计和验证,包括宽带隙半导体。Keysight的PD1500A DPT智能功能,如全自动参数提取软件,基于IEC和JEDEC标准,环路测试,电压和电流扫描测试,自动高温测试可以帮助推动未来的创新。

创新GaN和SIC应用

Keysight的PD1500A DPT使ncuoscc能够可靠地表征宽频带隙器件,并有效地创新GaN和SiC应用。它的安全保护、可扩展和可选的测试装置为我们提供了未来扩展所需的灵活性,”NCUOSC主任新跃明教授说。“除了PD1500A,我们还安装了Keysight B1505A/N1265A功率器件分析仪/曲线示踪器,以服务于WBG半导体的完整和关键特性。我们很高兴能与Keysight合作,为5G/6G和电动汽车的生态系统做出贡献。”

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